aixACCT推出FBAR用AlN薄膜测试系统 aixDBLI
FBAR用AlN薄膜研究利器---德国aixACCT公司aixDBLI晶圆双光束激光干涉仪测试系统
国际上FBAR用AlN薄膜的研究如火如荼,各国科学家都在下大力气进行将AlN作为压电层的薄膜体声波谐振器的研究。然而大家对材料往往结构表征丰富,而电学、机电性能表征不足。为此,德国aixACCT公司基于数十年对铁电压电热释电综合测试系统的研究基础上,开发出了aixDBLI晶圆双光束激光干涉仪测试系统。
aixDBLI晶圆双光束激光干涉仪是针对于1-8英寸晶圆上的MEMS器件的铁电压电性能测试,用的是双光束激光干涉仪的方法非接触式测试。
形变测试范围5pm到±25nm。
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