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产品列表
产品介绍


铁电压电材料分析设备
铁电压电分析仪 TF Analyzer 1000
铁电压电分析仪 TF Analyzer 2000E
铁电压电分析仪 TF Analyzer 3000
压电材料综合表征系统 aixPES
多铁材料磁电磁阻测试仪aixPES-MR
高温块体压电分析仪aixPES-600/800
低温块体压电分析仪aixPES-Cryo
电卡效应测试仪 ECM
热激发极化电流测试仪 TSDC
超薄薄膜压电双光束激光干涉仪 aixDBLI
陶瓷多层执行器测试仪 aixCMA
机电薄膜e31测试仪 aix4PB
阻变式存储器测试仪 RRAM
铁电迟豫电流测试仪 aixPES-RX
铁电自放电测试仪 aixPES-DR
铁电随机存储器测试仪 FeRAM
热释电性能测试仪 aixPYM
热电性能测试仪 COMTESSE

电子束能量分布测试制备
电子束能量分布测试仪diaBEAM

储氢材料测试制备
压力组分温度PCT测试仪

微纳米加工设备
电子束光刻 EBL
超高分辨率电子束光刻 EBL

表面沉积与制备设备
微波等离子体增强化学气相沉积 MPECVD

生化类分析设备
圆二色光谱仪 CD
动力学停留 Stopped-flow CD

 

 

热释电性能测试仪 aixPYM
(Pyroelectric Measurement)

本系统主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。
薄膜材料变温范围:-196℃到+600℃;
块体材料变温范围:室温到200℃、室温到600℃、室温到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五种夹具可选。


测试结果可得到:
热释电电流、热释电系数、剩余极化强度对温度和时间的曲线。



优点:
一个系统就可以进行薄膜及块体材料的铁电和热释电性能进行综合评价,如传感器和执行器
单一软件进行外部硬件控制(如温度控制器、高压放大器、位移传感器、示波器)和数据采集
远程接入和脚本控制
选件可实现数据库连接(ODBC)方便对材料/设备进行表征
针对用户应用和要求的硬件
升级服务,用户支持

特点:
支持的硬件:
内置或外置的高压放大器(+/-100V到+/-10 kV)
块体陶瓷样品夹具
温度控制器和温度腔
位移传感器(如激光干涉仪、电容或电感)
外置锁相放大器或阻抗桥


软件:
Windows 7操作系统
通过GPIB或以太网的远程接入和脚本控制
通过ODBC接口的数据库连接
测试数据通过ASCII形式输出
测试数据交换通过aixPlorer软件或Resonance Analyzer


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